Mikroskop atomárních sil Ntegra Spectra NT-MDT
Vysoce účinný mikroskop atomárních sil (AFM) s vysokým poměrem signál:šum; Z-šum < 0,1 nm (RMS v pásmu 10–1000 Hz); automatizovaná fotodioda, sonda a červený laser k detekci pohybu raménka. Díky mechanismu zpětné vazby ve vertikální ose, vzorek lze po celou dobru měření snadno zaostřit. Mikroskop umožnuje naskenovat snímky i velice hrubých či nerovných povrchů. Více popisu.
Optický mikroskop Leica
Polarizace světla a diferenciální interferometr kontrast, pozorování ve světlém a tmavém poli
