Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaFCHTÚstav anorganické chemie  → Vybavení → Difraktometrie
iduzel: 28753
idvazba: 36975
šablona: stranka
čas: 23.9.2017 02:14:16
verze: 3813
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Difraktometrie

originál

XRD pro tenké vrstvy a prášky Bruker D8 DISCOVER

  • Difraktometr s Cu rentgenovou lampou
    (vlnová délka budícího záření λ[Cu K-α1] = 1,54056 · 10–1 nm)

šířka 450px

XRD pro polykrystalické vzorky Bruker-Phaser 2nd Generation

Aktualizováno: 22.10.2016 13:29, Autor: ÚACH

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi