Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaFCHTÚstav anorganické chemie  → Vybavení → Mikroskopie
iduzel: 29047
idvazba: 36979
šablona: stranka_ikona
čas: 22.11.2017 15:31:59
verze: 3887
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Mikroskopie

Mikroskop atomárních sil Ntegra Spectra NT-MDT

Vysoce účinný mikroskop atomárních sil (AFM) s vysokým poměrem signál:šum; Z-šum < 0,1 nm (RMS v pásmu 10–1000 Hz); automatizovaná fotodioda, sonda a červený laser k detekci pohybu raménka. Díky mechanismu zpětné vazby ve vertikální ose, vzorek lze po celou dobru měření snadno zaostřit. Mikroskop umožnuje naskenovat snímky i velice hrubých či nerovných povrchů. Více popisu.

atomic-force-microscope (šířka 450px)

Optický mikroskop Leica

Polarizace světla a diferenciální interferometr kontrast, pozorování ve světlém a tmavém poli

originál

Tutoriál

Aktualizováno: 14.8.2017 08:38, Autor: ÚACH

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi