Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaFCHTÚstav anorganické chemie  → Výzkum → Materiály pro fotoniku → Vybavení a přístroje
iduzel: 60989
idvazba: 72304
šablona: stranka
čas: 20.4.2024 17:42:03
verze: 5351
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Server: 147.33.89.153
Obnovit | RAW
iduzel: 60989
idvazba: 72304
---Nová url--- (newurl_...)
domena: 'uach.vscht.cz'
jazyk: 'cs'
url: '/vyzkum/materialy-pro-fotoniku/pristroje'
iduzel: 60989
path: 8548/25669/25670/25673/25767/28745/60989
CMS: Odkaz na newurlCMS
branch: trunk
Obnovit | RAW

Vybavení laboratoře

Zařízení pro přípravu optických skel

Pec na tavení optického skla s trvalou provozní teplotou 1 650 °C (max. teplota je 1 700 °C), max. rychlostí ohřevu 20 °C/1 min., dolní rotací kelímku a s integrovaným Pt míchadlem s horní rotací.

Zařízení na řezání a leštění substrátů

Zařízení pro přípravu optických vlnovodů

Zařízení pro přípravu optických vlnovodů v elektrickém poli

Měřící metody

Metoda m-line (Metricon Prism Coupler)

Metricon Prism Coupler je jediný komerčně vyráběný přístroj vidové spektroskopie (metoda m-line) pro charakterizaci optických vlastností materiálů a tenkých vrstev. Metricon Prism Coupler je moderní, a ve svém oboru ojedinělý přístroj, který používají špičková výzkumná pracoviště či jiné univerzity po celém světě. Na území ČR se vyskytuje jediný přístroj, a to právě na našem pracovišti. Pomocí Metriconu je možné stanovit hloubkový profil indexu lomu a další parametry tenkých vrstev, jako jsou: celková změna indexu lomu, index lomu na povrchu vzorku n0) Pomocí přístroje Metricon je možné charakterizovat optické vlnovody a materiály při pěti vlnových délkách, stanovit disperzi nebo útlum vlnovodu.

M-line spectroscopy (Metricon Prism Coupler)
The Metricon Model Prism Coupler.

Tmavá vidová spektroskopie (671 nm) & Vidová spektroskopie (632 nm)

Metody, kterými lze stanovit hloubkový profil indexu lomu a další parametry povrchové optické vrstvy (celková změna indexu lomu, index lomu na povrchu vzorku n0)

LASER
Charakterizace optických vlastností metodou dvouhranolové vidové spektroskopie (He-Ne laser, 632 nm), foto: Aleš Novák

Optický polarizační mikroskop

Kontrola kvality povrchu, vizualizace šlír, hloubka optické vrstvy

Aktualizováno: 8.3.2024 14:37, Autor: Blanka Kopecká

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi