Prosím čekejte...
Nepřihlášený uživatel
iduzel: 28746
idvazba: 37034
šablona: stranka_submenu
čas: 23.9.2017 02:20:29
verze: 3813
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Výzkum

Řešená problematika

  • Příprava a studium vlastností K+, Ag+, Cu+, Cu2+ a Li+ optických vlnovodů v dielektrických materiálech
  • Příprava a studium vlastností speciálních optických skel dotovaných ionty d- a f-prvků
  • Studium vlastností optických vrstev připravených iontovou implantací
  • Studium difúzních procesů probíhajících při iontové výměně
  • Lokalizovaná dotace laserově aktivních iontů do skleněných substrátů

Vybavení laboratoře

  • Zařízení pro přípravu optických vlnovodů
  • Zařízení pro přípravu optických vlnovodů v elektrickém poli
  • Zařízení na řezání a leštění substrátů

Měřící metody

Metoda m-line (Metricon Prism Coupler)

Metricon Prism Coupler je jediný komerčně vyráběný přístroj vidové spektroskopie (metoda m-line) pro charakterizaci optických vlastností materiálů a tenkých vrstev. Metricon Prism Coupler je moderní, a ve svém oboru ojedinělý přístroj, který používají špičková výzkumná pracoviště či jiné univerzity po celém světě. Na území ČR se vyskytuje jediný přístroj, a to právě na našem pracovišti. Pomocí Metriconu je možné stanovit hloubkový profil indexu lomu a další parametry tenkých vrstev, jako jsou: celková změna indexu lomu, index lomu na povrchu vzorku n0) Pomocí přístroje Metricon je možné charakterizovat optické vlnovody a materiály při pěti vlnových délkách, stanovit disperzi nebo útlum vlnovodu.

M-line spectroscopy (Metricon Prism Coupler)
The Metricon Model Prism Coupler.

Tmavá vidová spektroskopie (671 nm) & Vidová spektroskopie (632 nm)

Metody, kterými lze stanovit hloubkový profil indexu lomu a další parametry povrchové optické vrstvy (celková změna indexu lomu, index lomu na povrchu vzorku n0)

LASER
Charakterizace optických vlastností metodou dvouhranolové vidové spektroskopie (He-Ne laser, 632 nm), foto: Aleš Novák

Optický polarizační mikroskop

Kontrola kvality povrchu, vizualizace šlír, hloubka optické vrstvy

Habilitační práce 

"Anorganické materiály pro fotonické součástky" - P. Nekvindová, 2016

Disertační práce (podané, obhájené a probíhající)

"Studium nelineárních optických vlastností kovových nanočástic připravených v anorganických materiálech" - S. Vytykáčová (probíhající)

"Studium luminiscenčních vlastností lanthanoidů v dielektrických materiálech s ohledem na vliv krystalového pole" - J. Cajzl (probíhající)

"Vývoj erbito-ytterbitého silikátového skla pro konstrukci planárního optického vlnovodného zesilovače" - S. Staněk (probíhající)

"Příprava a studium optických vlastností nových křemičitých skel dotovaných laserově aktivními ionty pro využití ve fotonice" - S. Stará-Janáková, 2011

"Studium přípravy a vlastností planárních optických vlnovodů v dielektrických materiálech" - B. Švecová, 2010

Diplomové práce (řešené v posledních letech)

"Studium přípravy a vlastností skel obsahujících kovové nanočástice stříbra" - S. Vytykáčová, 2014

"Erbium ve struktuře niobičnanu lithného a jeho luminiscenční vlastnosti" - J. Cajzl, 2012
"Charakterizace optických vlastností vlnovodů v nových Zn, Er-Yb křemičitanových sklech" - S.Staněk, 2011

"Příprava optických vrstev iontovou výměnou v elektrickém poli" - J. Altšmíd, 2011

Bakalářské práce (řešené v posledních letech)

"Studium optických vlastností nanokrystalických diamantových vrstev" - B. Akhetova, 2016

"Vliv kovových nanočástic stříbra na vlastnosti skel dotovaných erbitými ionty" - B. Chládeková, 2016

"Příprava tenkých vrstev obsahujících měď metodou sol-gel, iontovou výměnou a iontovou implantací" - P. Vařák, 2016

"Štúdium vplyvu implantácie kyslíka na vlastnosti skiel implantovaných Cu+, Ag+ a Au+ iónmi" - S. Vytykáčová, 2012

"Příprava optických vrstev obsahujících Cu+ a Cu2+ s přihlédnutím k bezpečnosti práce" - M. Bubeníková, 2010

"Opticky aktivní vrstvy v monokrystalu LiNbO3 připravené lokalizovanou dotací erbia" - J. Cajzl, 2010

Spolupráce

Instituce Akademie věd ČR:

     Ústav jaderné fyziky
     Fyzikální ústav
     Ústav fotoniky a elektroniky
     Ústav chemických procesů
    

Matematicko-fyzikální fakulta Univerzity Karlovy v Praze

České vysoké učení technické v Praze:

     Fakulta elektrotechnická
     Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská
    

TU Wien, Rakousko

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Německo

IFAC CNR Florencie, Itálie

SQS vláknová optika a.s., Česká republika

Preciosa, Česká republika

Aktualizováno: 9.11.2016 13:46, Autor: Blanka Švecová

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi